GPIB自动化解决方案

丰科精密机械有限公司可按需进行定制加工，快速制造各种原型样件，小批量生产零件。我们随时欢迎您的咨询！

• 功能-RMS

• 自动下载TestProgame，每次开始run货前进行RMS比对
• 指定ProberRecipe，并在每次开始run货前进行RMS比对
• 实时监控Prober参数，比如温度，测试OD,Probe Card Clean等
• 每篇Wafer开始及测试过程中断后再继续测试时都要进行Probe参数对比




• 功能-RTM

• 实时获取测试数据，无延时
• 实时显示Map图并进行良率监控
• 实时监控Tester和Prober的状况，防止测试过程中异常Down机而无法发现
• 获取Tester测试数据，By Wafer统计相关Yield




• 功能-AutoContact

• 无需上货前复杂的手动Contact过程，全自动测量出正确的OD值
• 提高生产效率，将Contact的时间从分钟级别缩短至6秒之内
• 支持Z轴调整过程中的自定义上下Limit报警，以免损坏针卡
• 支持1点和5点Contact




• 功能-RTM

• 通过良率分析，得出良率最好的DUT使用的Probe Card，重测时使用指定Probe Card进行测试
• Reprobing之前，自动计算最优路径，以最快速度完成重测
• 通过前一次测试的BIN良率数据分析，重测某一BIN份的DIE数据
• 通过前一次测试的Site良率分析，以良率高的Site重新测试